The Piezojunction Effect in Silicon, its Consequences and Applications for Integrated Circuits and Sensors The Piezojunction Effect in Silicon, its Consequences and Applications for Integrated Circuits and Sensors PROEFSCHRIFT ter verkrijging van de graad van doctor aan de Technische Universiteit Delft, op gezag van de Rector Magnificus prof. Ir. K. F. Wakker, voorzitter van het College voor Promoties, in het openbaar te verdedigen op maandag 24 september 2001 om 10:30 uur door Fabiano FRUETT master in electric engineering, UNICAMP, Brazil geboren te São Caetano do Sul, Brazil Dit proefschrift is goedgekeurd door de promotor: Prof. dr. ir. A.H.M. van Roermund Togevoegd promotor: Dr. ir. G.C.M. Meijer Samenstelling promotiecommissie: Rector Magnificus, Technische Universiteit Delft, voorzitter Prof. dr. ir. A.H.M. van Roermund,Technische Universiteit Delft, promotor Dr. ir. G.C.M. Meijer, Technische Universiteit Delft, toegevoegd promotor Prof. dr ir. R. Puers, Katholieke Universiteit Leuven, Belgium Prof. ir. A.J.M. van Tuijl, Philips Research Laboratories, Eindhoven Dr. C.A. dos Reis Filho, Univesridade Estadual de Campinas, Brazil Prof. dr. ir. J.W. Slotboom, Technische Universiteit Delft Prof. dr. ir. J.H. Huijsing, Technische Universiteit Delft Published and distributed by: DUP Science DUP Science is an imprint of Delft University Press P.O. Box 98 2600 MG Delft The Netherlands Phone: +31 15 27 85 678 Fax: +31 15 27 85 706 E-mail:
[email protected] ISBN 90-407-2226-9 Keywords: piezojunction effect, analogue integrated circuit and mechanical-stress sensor. Copyright 2001 by Fabiano Fruett All rights reserved. No part of the material protected by this copyright notice may be reproduced or utilized in any form or by means, electronic or mechanical, including photocopying, recording, or by any information storage and retrieval system, without written permission from the publisher: Delft University Press.