Solutions Nikon Metrology
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SOLUTIONS NIKON METROLOGY INSPECTION RAYONS X ET PAR TOMOGRAPHIE NUMERIQUE SCANNING LASER MMT SCANNING LASER PORTABLE MACHINES A MESURER TRIDIMENSIONNELLES LOGICIELS DE METROLOGIE METROLOGIE GRANDS VOLUMES METROLOGIE ROBOTISÉE SYSTEMES DE MESURE PAR VIDEO MICROSCOPES DE MESURE MICROSCOPES INDUSTRIELS SERVICE DE MÉTROLOGIE NIKON METROLOGY I VISION BEYOND PRECISION LES SOLUTIONS NIKON METROLOGY INSPECTION RAYONS X ET PAR 24 INSTRUMENTS DE MESURE 4 TOMOGRAPHIE NUMERIQUE iNEXIV VMA, systéme d’imagerie numérique à grande vitesse Sources rayons X Série NEXIV VMZ système de mesure par vidéo Séries XT H, systèmes industriels de Tomographie Numérique Séries MM, microscopes de mesure Systèmes rayons X et Tomographie Numérique configurables Projecteurs de profil Séries MCT, métrologie par Tomographie Numérique Digimicro, systèmes numériques de mesure de longueur Séries XT V, contrôle de l’électronique par rayons X Autocollimateurs Automatisation par Tomographie Numérique 30 MICROSCOPES INDUSTRIELS METROLOGIE MULTI-CAPTEURS 13 Microscopes Stéréoscopiques Logiciel de métrologie CMM-Manager Séries IM, microscopes industriels Machines à mesurer tridimensionnelles Microscope interférométrique à lumière blanche BW-séries Scanner portable ModelMaker NeoScope microscope électronique à balayage MCAx – Bras poly-articulé Logiciels de mesure Logiciel de nuage de points FOCUS Logiciel de métrologie CMM-Manager Intégration de logiciels tiers SERVICE ET ASSISTANCE 35 PRODUCTION ASSISTEE PAR LA 21 METROLOGIE / METROLOGIE ROBOTISEE Inspection grands volumes avec le Laser Radar Inspection automatisée en ligne NIKON METROLOGY I VISION BEYOND PRECISION 2 INSPECTION RAYONS X ET PAR TOMOGRAPHIE NUMERIQUE C’est une véritable plongée au coeur de la structure interne, qui permet de fournir une image de l’intérieur des composants électroniques et des pièces industrielles. On utilise ensuite les capacités de la Tomographie Numérique pour qualifier et quantifier les dimensions intérieures et extérieures, au cours d’un processus doux et non-destructif. SOURCES RAYONS X TOMOGRAPHIE INDUSTRIELLE : XT 225 / 225 ST TOMOGRAPHIE INDUSTRIELLE : XT H 320 SCANNING GRANDE PUISSANCE PAR TOMOGRAPHIE : XT H 450 SYSTEMES DE TOMOGRAPHIE NUMERIQUE AVEC GRANDE CABINE METROLOGIE PAR TOMOGRAPHIE NUMERIQUE : MCT225 INSPECTION DE COMPOSANTS ELECTRONIQUES PAR RAYONS X : XT V 130C / XT V 160 AUTOMATISATON PAR TOMOGRAPHIE NUMERIQUE 3 SOURCES RAYONS X Conçues et fabriquées en interne Les sources rayons X de Nikon Metrology sont au cœur de notre technologie. Nous les concevons et nous les fabriquons nous-mêmes depuis 1987, ce qui fait qu’à ce jour nous offrons plus de 30 années de notre savoir-faire. Au coeur de l’image, le contrôle de la technologie de la source rayons X permet à Nikon Metrology de réagir rapidement au marché et de développer des solutions complètes et innovantes afin de répondre aux exigences des applications. Toutes les sources sont à tube ouvert et ont donc un faible coût d’usage. La plage de puissance va de la plus basse (180) à la moyenne (225) à la plus haute (450) kV, toutes présentant une résolution au micron. Cible à transmission de 180 kV Utilisable pour les échantillons inférieurs à 10 mm, comme les petites carottes de roche ou les os, la cible à transmission fonctionne jusqu’à 180 kV afin d’atteindre une taille focale minimale de 1 μm,aboutissant à une grande résolution en Tomographie Numérique. Cible à réflexion de 225 kV Avec une puissance atteignant 225 kV et une taille focale minimale de 3 microns, la source microfocus 225 kV est le cœur de la gamme XT H 225 de Nikon, apportant la flexibilité nécessaire pour s’adapter aux différentes dimensions et densités rencontrées. Cible rotative de 225 kV Nikon Metrology est la seule entreprise à produire une source microfocus Source 450 kV, statique ou 225 kV industrielle à cible tournante . Grâce à la cible tournante, le haute brillance. faisceau d’électrons frappe une surface mobile, et non fixe, permettant un meilleur refroidissement. C’est ce qui offre l’opportunité de mesurer plus C’est la seule source 450 kV microfocus du vite les objets, ou de mesurer des objets plus denses avec une meilleure monde à offrir des performances de niveau précision qu’avec le 225 kV standard. industriel pour les petites pièces de fonderie très denses ou les pièces de fonderies de taille moyenne à grande. Source 320 kV La source 320 kV est la seule source microfocus pour les échantillons trop La source 450 kV de grande puissance grands ou trop denses pour la source 225 kV, tout en maintenant une délivre une puissance de 450 W en continu, petite taille focale. Idéale pour les carottes de roche et les petites pièces sans limitation du temps de mesure, tout en de fonderie, cette source est en option dans l’offre XT H 320. conservant la plus petite taille de point pour un scanning plus rapide par Tomographie Numérique. Elle permet de collecter des Cible multi-métaux données en allant jusqu’à 5 fois plus vite ou En général il est bénéfique d’utiliser un spectre d’émission rayons avec une meilleure précision que la 450 kV X à faible énergie pour l’analyse de certains matériaux et cela standard, avec une durée de scan semblable. peut être effectué avec une cible multi-métaux. En plus de la cible standard en tungstène (W), l’opérateur peut facilement choisir pami trois autres matériaux de cible: argent (Ag), molybdène (Mo) et cuivre (Cu). 4 INSPECTION RAYONS X ET PAR TOMOGRAPHIE NUMERIQUE XT H 225 / 225 ST ENTREZ DANS LE MONDE DE LA TOMOGRAPHIE NUMERIQUE PAR RAYONS X Le contrôle qualité, l’analyse des ruptures et la recherche sur les matériaux, dans plusieurs industries, exigent très souvent de capturer et de mesurer, de façon détaillée, les formes géométriques internes et les assemblages. Les systèmes d’entrée de gamme XTH 225 sont équipés d’une source rayons x microfocus qui offre une haute résolution d’image. Le XT H 225 ST est une version améliorée pouvant recevoir des échantillons plus grands ou plus lourds, avec un choix de sources rayons X allant de la cible à transmission 180 kV à la cible rotative 225 kV à flux élevé. Elles couvrent une large gamme d’applications, y compris l’inspection des pièces en plastique, des petites pièces de fonderie et des mécanismes complexes, mais aussi la recherche des matériaux et les spécimens naturels. Caractéristiques • Choix entre différentes sources microfocus par rayons X, brevetées - 180 kV cible à transmission - 225 kV cible à réflexion Avantages - En option : cible rotative (ST uniquement) • Flexibilité combinée dans un seul système : rayons X pour • Choix d’écrans plats Varian ou Perkin Elmer l’inspection visuelle rapide et TN pour l’analyse en profondeur • Visualisation en temps réel des rayons X, reconstruction rapide par TN • Capture rapide des données et grande qualité d’image • Mesure par TN de volumes jusqu’à X:450 mm, Y:350 mm, Z:750 mm (version ST) • Travail rapide grâce au joystick interactif • Manipulateur de pièce 5 axes entièrement programmable • Imagerie et traitement numériques à haute résolution • Flux de travail de mesure automatisé à macros personnalisables • Système de sécurité sans précautions particulières ni badge • Faible encombrement au sol et roulettes pour une meilleure manipulation • Intégration parfaite aux applications de post traitement des normes industrielles Tomographie Numérique (TN) Pour générer un volume 3D par TN, on capture des séquences d’images 2D aux rayons X, pendant que l’objet tourne de 360°. Ces images sont ensuite reconstruites pour générer une représentation volumique en 3D de l’objet. En plus des surfaces extérieures, le volume reconstruit contient toutes les informations sur les surfaces intérieures et sur la structure, ainsi que les informations sur la structure du matériau. Il est possible d’aller sur n’importe quel point, quel que soit le plan, dans le volume acquis par TN. On peut donc même réaliser des mesures intérieures, avec, comme avantage supplémentaire, de pouvoir localiser les imperfections de la structure de la matière et d’identifier les erreurs d’assemblage que les méthodes traditionnelles de contrôle non destructif ne peuvent pas voir. 5 XT H 320 SYSTEME A GRANDE CABINE POUR LA METROLOGIE PAR TOMOGRAPHIE NUMERIQUE Le XT H 320 est un système à grande cabine pour le scanning et la métrologie par Tomographie Numérique rayons X des gros composants. Le système se compose d’une source microfocus de 320 kV délivrant une puissance pouvant atteindre 320 W. On utilise un écran plat à grande résolution pour prendre des images de grande qualité de l’échantillon. Le logiciel Inspect-X permet de commander le système. Il permet d’effectuer de façon simple et aisée la collecte des données de la Tomographie Numérique et de configurer les mesures. Le système peut générer des données de type volume3D visualisables par les logiciels de visualisation du marché. Des images stupéfiantes Microfocus 320 kV Grâce à leur grande plage dynamique, les écrans plats Perkin La plupart des fournisseurs de systèmes n’offrent que des Elmer permettent de mieux scanner les échantillons multi matières sources microfocus allant jusqu’à 225 kV, tandis que les sources ou faiblement atténués. Les scans par TN, grâce aux écrans plats plus puissantes qu’ils proposent sont de la catégorie minifocus. avec beaucoup de pixels, permettent d’atteindre des données Avec des échantillons plus grands, on a souvent besoin d’une de voxel à haute résolution. Les cabines plus larges peuvent être plus grande puissance de pénétration, par conséquent, Nikon configurées avec des écrans